DHTA系列 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱 相關(guān)信息由 多禾試驗(yàn)設(shè)備（上海）有限公司提供。如需了解更詳細(xì)的 DHTA系列 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱 的信息，請(qǐng)點(diǎn)擊 http://m.qnon.net/b2b/duohe2017.html 查看 多禾試驗(yàn)設(shè)備（上海）有限公司 的詳細(xì)聯(lián)系方式。
多禾試驗(yàn)doaho??歐洲研發(fā)中心推出DHTA系列高低溫低氣壓試驗(yàn)箱，超緊湊的設(shè)計(jì)，特別適合實(shí)驗(yàn)室，高校，研究所的高低溫低氣壓試驗(yàn)場(chǎng)所。DHTA系列高低溫試驗(yàn)箱運(yùn)用DHSPLCON技術(shù)將高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用壽命大大延長(zhǎng)至25年以上。多禾試驗(yàn)，成型于歐洲，產(chǎn)銷于國(guó)內(nèi)，品質(zhì){zy1}，價(jià)格親民。DHTA系列試驗(yàn)箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品進(jìn)行高低溫低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫，高度（不高于海拔30000米或45000米）以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)和溫度－高度綜合試驗(yàn)，高、低溫試驗(yàn)時(shí)本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能超過試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化。
特點(diǎn)
操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)
記錄量大：實(shí)時(shí)記錄大量采樣數(shù)據(jù)，并可實(shí)現(xiàn)在 PC機(jī)上打印曲線。
高可靠性：為提高整機(jī)的可靠性，主要部件全部由各zm專業(yè)廠商提供。
安全保護(hù)：溫度過升保護(hù)，試品保護(hù)，設(shè)備自身保護(hù)，操作人員安全保護(hù)。
技術(shù)參數(shù)：
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型號(hào) |
|
DHCA-190 |
DHCA-335 |
DHCA-500 |
DHCA-010 |
DHCA-015 |
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容積 |
L |
190 |
335 |
500 |
1000 |
1500 |
|
溫度范圍 |
℃ |
0（-20，-40，-70）/180 |
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升溫速率 |
℃/min |
2~3 |
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|
降溫速率 |
℃/min |
0.7~1 |
||||
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溫度波動(dòng)度 |
℃ |
±0.5 |
||||
|
溫度均勻度 |
℃ |
±2 |
||||
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濕度可用溫度范圍 |
℃ |
15~95 |
||||
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濕度范圍 |
%RH |
20~98% |
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|
濕度偏差 |
%RH |
±1.0~±3.0 |
||||
|
壓力范圍 |
kPa |
1~100 |
||||
|
壓力偏差 |
kPa |
84~40：±2 |
||||
|
|
|
25~4：±0.5 |
||||
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|
|
≤2：±0.1 |
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|
氣壓變化速率 |
kPa/min |
≤10 |
||||
|
工作室尺寸 (mm) |
W |
580 |
580 |
800 |
1000 |
1100 |
|
|
D |
450 |
765 |
700 |
1000 |
1475 |
|
|
H |
750 |
750 |
900 |
1000 |
950 |
|
外形尺寸 (mm) |
W |
870 |
870 |
1090 |
1290 |
1390 |
|
|
D |
1550 |
1860 |
1470 |
1780 |
2680 |
|
|
H |
1800 |
1800 |
1890 |
2030 |
1995 |
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符合標(biāo)準(zhǔn) |
|
GB/T 11159-2010、GB/T 10590-2006 |
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GB/T 10591-2006、GB/T 10592-2008 |
||||
|
|
|
GB/T 2423.25-2008、GB/T 2423.26-2008 |
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電源 |
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380V±10%，50~60HZ，3/N/PE |
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|
噪音 |
dB(A) |
65 |
65 |
65 |
65 |
65 |
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冷卻方式 |
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風(fēng)冷 |
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執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB/T
11159-2010低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10591-2006 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)Z/AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
IEC 68-2-40:1976
GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)ZBM：高溫低氣壓綜合試驗(yàn)
IEC 68-2-41:1976
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
IEC 60068-2-14:1984
GJB 150.2A-2009 jy裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法
第2部分：低氣壓(高度)試驗(yàn)
GJB 150.6-96 jy設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
溫度-高度試驗(yàn)
IEC68-2-27
GJB150.3A-2009 jy裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法
第3部分: 高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 jy裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分: 低溫試驗(yàn)
其他：
使用環(huán)境溫度：+5～+35℃
安全配置：漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置：
通訊方式： USB（標(biāo)配）
CF/SD存儲(chǔ)卡以太網(wǎng)/（選配）
可調(diào)節(jié)腳輪 4只
選配
CF/SD存儲(chǔ)卡，以太網(wǎng)，RS485/232通訊接口
