搜產(chǎn)品
搜企業(yè)
客服電話:13631151688
DHTS3系列 高低溫沖擊試驗箱（三箱式） 相關信息由 多禾試驗設備（上海）有限公司提供。如需了解更詳細的 DHTS3系列 高低溫沖擊試驗箱（三箱式） 的信息，請點擊 http://m.qnon.net/b2b/duohe2017.html 查看 多禾試驗設備（上海）有限公司 的詳細聯(lián)系方式。
多禾試驗doaho??歐洲研發(fā)中心推出DHTS3系列，超緊湊的設計，特別適合實驗室，高校，研究所等場所。DHTS3系列高低溫試驗箱運用DHSPLCON技術將高低溫沖擊試驗箱使用壽命大大延長至25年以上。多禾試驗，成型于歐洲，產(chǎn)銷于國內(nèi)，品質(zhì){zy1}，價格親民。DHTS3系列試驗箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗沖擊試驗環(huán)境。可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或低溫連續(xù)的環(huán)境下物理性能的可靠性，也可以用于環(huán)境應力篩選（溫度循環(huán)）、高/低溫環(huán)境適應性和可靠性試驗，對各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實際溫度與快溫變環(huán)境
和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。
溫度沖擊試驗箱分為兩種類型：兩廂式、三廂式。主要的區(qū)別在于試驗方法、樣架移動方式及內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可適用于多種使用條件及不同行業(yè)用戶的需求。
特點
雙層大視窗設計，飛利浦高亮度照明
操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設定、顯示各種運行數(shù)
記錄量大：實時記錄大量采樣數(shù)據(jù)，并可實現(xiàn)在 PC機上打印曲線。
高可靠性：為提高整機的可靠性，主要部件全部由各zm專業(yè)廠商提供。
安全保護：溫度過升保護，試品保護，設備自身保護，操作人員安全保護。
技術參數(shù)
型號
DHTS2-70
DHTS2-100
DHTS3-70
DHTS3-100
DHTS2 Upgrading
容積
L
70
100
70
100
Customised
測試區(qū)
2
2
3
3
2
高溫室溫度范圍
℃
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
測試區(qū)溫度范圍
℃
-
-
RT
RT
-
低溫室溫度范圍
℃
-70/-10
-70/-10
-70/-10
-70/-10
-70/-10
溫度波動度
℃
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
溫度均勻度
℃
±0.5~±2.0
±0.5~±2.0
±1.0~±2.0
±1.0~±2.0
±1.0~±2.0
溫度恢復時間
Min
<15min
<15min
<15min
<15min
帶載
帶載
帶載
帶載
<5min
<5min
<5min
<5min
<2 min
出風口測量
出風口測量
出風口測量
出風口測量
出風口測量
工作室尺寸 (mm)
W
460
460
460
460
定制
D
410
650
410
650
定制
H
370
370
370
370
定制
外形尺寸(mm)
W
750
750
1600
1600
定制
D
1190
1330
1750
2250
定制
H
2260
2260
1620
1620
定制
{zd0}負載
Kg
20
50
20
20
50
噪音
dB(A)
58
60
65
70
/
符合標準
DHTS2-70
GB/T 2423.22-2002
DHTS2-100
MIL STD 883 E,Method 1010.7,intensity
A,B,C,D,F
MIL STD 810 E，Method 503
MIL STD 202F,Method 107 G
IEC 60068-2-14，Test Na
DHTS2 升級款
IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL
DHTS3-100
MIL STD 883 C,Method 1010.5,Intensity
A,B,C,D,G
MIL STD 810 D,Method 503.2
MIL STD 202 E,Method 107 D
電源
380V±10%，50Hz，3/N/PE
功率
KW
8.5
11
13
15
/
冷卻方式
風冷
風冷
水冷
水冷
水冷
執(zhí)行與滿足標準及試驗方法
其他：
使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)
安全配置：漏電保護、短路保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、超溫保護、相序/缺相保護
附件標準配置：
照明燈*1
AISI304樣品架：樣品提籃1個
通訊方式： USB（標配）
圓形腳輪 4只
選配
以太網(wǎng)/ /CF/SD 存儲卡RS485/232
GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB10592-2008 高低溫試驗箱技術條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009 jy裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 高溫試驗
GJB150.4A-2009 jy裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 低溫試驗
