

DHTH系列 溫濕度試驗箱 相關(guān)信息由 多禾試驗設(shè)備(上海)有限公司提供。如需了解更詳細的 DHTH系列 溫濕度試驗箱 的信息,請點擊 http://m.qnon.net/b2b/duohe2017.html 查看 多禾試驗設(shè)備(上海)有限公司 的詳細聯(lián)系方式。
多禾試驗doaho??歐洲研發(fā)中心推出DHTH系列溫濕度試驗箱,超緊湊的設(shè)計,特別適合實驗室,高校,研究所等場所。DHTH系列溫濕度試驗箱運用DHSPLCON技術(shù)將溫濕度試驗箱使用壽命大大延長至25年以上。多禾試驗,成型于歐洲,產(chǎn)銷于國內(nèi),品質(zhì){zy1},價格親民。DHTH系列試驗箱主要為各種工業(yè)制品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗等各環(huán)節(jié)的試驗為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗+濕度環(huán)境。產(chǎn)品系列覆蓋電子器件、機電產(chǎn)品、材料能源、醫(yī)藥化工到汽車航天等行業(yè)廣泛需求。
特點
雙層大視窗設(shè)計,飛利浦高亮度照明
操作方便:采用彩色液晶觸摸屏,設(shè)定、顯示各種運行數(shù)
記錄量大:實時記錄大量采樣數(shù)據(jù),并可實現(xiàn)在 PC機上打印曲線。
高可靠性:為提高整機的可靠性,主要部件全部由各zm專業(yè)廠商提供。
安全保護:溫度過升保護,試品保護,設(shè)備自身保護,操作人員安全保護。
技術(shù)參數(shù)
溫度試驗箱
Model
DHT-100
DHT-190
DHT-250
DHT-335
DHT-500
DHT-010
DHT-015
溫濕度試驗箱
Model
DHTH-100
DHTH-190
DHTH-250
DHTH-335
DHTH-500
DHTH-010
DHTH-015
容積
L
100
190
250
335
500
1000
1500
溫度試驗箱(DHT 系列)
溫度范圍
℃
0(-20,-40,-70)/180
升溫速率
℃/min
4℃/min
降溫速率
℃/min
2℃/min
溫度波動度
℃
±0.1~±0.5℃
溫度均勻度
℃
±0.5~±1.5℃
溫濕度試驗箱系列
濕度可用溫度范圍
℃
15~95
相對濕度范圍
%RH
20~98%
濕度偏差
%RH
±1.0~±3.0
工作室尺寸(mm)
W
400
580
630
580
800
1000
1100
D
500
450
520
765
700
1000
1475
H
500
750
780
750
900
1000
950
外形尺寸(mm)
W
600
870
830
870
1090
1290
1390
D
1285
1550
1305
1860
1470
1780
2680
H
1580
1800
1860
1800
1890
2030
1995
電源
380V±10%,50HZ,3/N/PE;220V±10%,50~60Hz,2 Phase
功率
KW
3
3
4
6
9
13
15
噪音
bB(A)
57
57
57
57
62
63
63
冷卻方式
風(fēng)冷
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法
IEC
60068-2-78:2001
IEC
60068-2-30:2005
其他:
使用環(huán)境溫度:+5~+35℃ (降溫保障+5~+28℃)
安全配置:漏電保護、短路保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風(fēng)機過載保護、超溫保護、相序/缺相保護
附件標(biāo)準(zhǔn)配置:
照明燈*1
AISI304樣品架:2個(100L-1000L)
通訊方式: USB(標(biāo)配)
圓形腳輪:4只
選配
以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲卡 RS485/232
GBT 10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 IEC
60068-2-2:2007
GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))
GBT 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cb 設(shè)備用恒定濕熱IEC 60068-2-56:1988IDT
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009 jy裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 高溫試驗
GJB150.4A-2009 jy裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 低溫試驗