微區(qū)膜厚測量儀與反射光度計(jì) 相關(guān)信息由 貝耐特光學(xué)科技（蘇州）有限公司提供。如需了解更詳細(xì)的 微區(qū)膜厚測量儀與反射光度計(jì) 的信息，請點(diǎn)擊 http://m.qnon.net/b2b/bntgx.html 查看 貝耐特光學(xué)科技（蘇州）有限公司 的詳細(xì)聯(lián)系方式。
產(chǎn)品介紹：
用于微米級表面尺寸光學(xué)反射率，薄膜厚度及膜層材料光學(xué)參數(shù)（n&k）的快速測量?？梢栽?/span>0.1秒鐘內(nèi)同時獲取單層薄膜厚度和材料光學(xué)參數(shù)。該儀器可用于各種環(huán)境、如實(shí)驗(yàn)室、工廠生產(chǎn)線及野外的實(shí)時測量。
關(guān)鍵優(yōu)勢：
應(yīng)用領(lǐng)域：
產(chǎn)品規(guī)格：
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參數(shù) |
技術(shù)指標(biāo) |
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測量內(nèi)容 |
反射率，膜層厚度及光學(xué)常數(shù)（n&k） |
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光斑尺寸 |
5μm，10μm，50μm，80μm，100μm |
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膜厚范圍 |
15nm至100μm，精度為0.2nm |
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測量時間 |
單點(diǎn)測量時間小于0.1秒 |
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光譜范圍 |
350nm至1000nm，1000nm至1700nm |
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樣品尺寸 |
1mm至100mm |
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儀器重量 |
2.8公斤 |
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儀器尺寸 |
29 x 23 x 25cm |
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數(shù)據(jù)處理 |
USB數(shù)據(jù)傳輸，配套軟件Film_Analyzer |
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操作系統(tǒng) |
Windows10及以上系統(tǒng) |
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電源 |
100-240 VAC，50/60Hz，0.4A |
