NanoXSpot微焦點(diǎn)測(cè)試儀，NanoXSpot焦點(diǎn)測(cè)試儀詳細(xì)介紹：
NanoXSpot微焦點(diǎn)測(cè)試儀，NanoXSpot焦點(diǎn)測(cè)試儀用于對(duì)光斑尺寸 <100 μm 的 X 射線管進(jìn)行質(zhì)量保證，根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評(píng)估焦點(diǎn)尺寸 <100 μm 和光斑形狀
歐洲計(jì)量創(chuàng)新與研究計(jì)劃項(xiàng)目開發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測(cè)量?jī)x，具有線組、西門子星形和孔圖，用于測(cè)量小至 100 納米的聚焦光斑
計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周圍不同角度拍攝的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集，這項(xiàng)技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學(xué)中的患者診斷。此外，它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無(wú)損檢測(cè)、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評(píng)估以及產(chǎn)品尺寸的驗(yàn)證。這些行業(yè)對(duì)檢測(cè)分辨力的要求小至納米級(jí)。
隨著電子設(shè)備的小型化變得越來(lái)越普遍，以及隨著新技術(shù)（如電動(dòng)汽車）的出現(xiàn)和航空工業(yè)中輕質(zhì)化合物的使用，對(duì) 5微米或更小分辨力（大約人類頭發(fā)絲寬度的 1/10）的 CT 測(cè)量的需求日益增加。X 射線管的光斑尺寸直接影響到測(cè)量分辨力。但是，對(duì)于5微米以下的 X 射線管光斑尺寸，沒有國(guó)際公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)或測(cè)量方法。X 射線設(shè)備制造商采用自有的測(cè)量方法導(dǎo)致了不一致的結(jié)果。因此，研究人員正在開發(fā)基于可溯源表征的測(cè)量?jī)x來(lái)確定光斑大小、形狀和位置的新方法，并將作為這些光斑測(cè)量的國(guó)際公認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)引入。
歐洲計(jì)量創(chuàng)新與研究計(jì)劃（EMPIR）項(xiàng)目《對(duì)光斑小至100納米的 X 射線管焦斑尺寸的測(cè)量 （NanoXSpot，18NRM07）》正在開發(fā)新的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐，以比目前更高的準(zhǔn)確度水平表征 X 射線焦斑。
X 射線管的質(zhì)量保證 – 光斑尺寸和形狀
一段時(shí)間后，可能會(huì)觀察到 X 射線管（尤其是納米和微焦管）目標(biāo)的燒毀使用量，這可能導(dǎo)致光斑尺寸增加。一些管制造商允許管目標(biāo)旋轉(zhuǎn)。這允許改變目標(biāo)上的焦點(diǎn)位置并提供不失真的焦點(diǎn)尺寸
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