





鄭科探KT-Z160TZ 真空冷熱探針臺(tái) 液氮探針臺(tái) 高溫探針臺(tái) 相關(guān)信息由 鄭州科創(chuàng)實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司提供。如需了解更詳細(xì)的 鄭科探KT-Z160TZ 真空冷熱探針臺(tái) 液氮探針臺(tái) 高溫探針臺(tái) 的信息,請(qǐng)點(diǎn)擊 http://m.qnon.net/b2b/zztk001.html 查看 鄭州科創(chuàng)實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司 的詳細(xì)聯(lián)系方式。
探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
該探針臺(tái)的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面,臺(tái)面**可升溫到*高350℃。真空腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng),三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測的器件固定在加熱臺(tái)上,再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對(duì)準(zhǔn)檢測點(diǎn)后,即可進(jìn)行檢測
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電子顯微鏡 |
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顯微鏡類別 |
物鏡 |
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物鏡倍數(shù) |
0.7-4.5倍 |
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工作間距 |
90mm |
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相機(jī) |
sony 高清 |
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像素 |
1920※1080像素 |
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圖像接口 |
VGA |
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LED可調(diào)光源 |
有 |
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顯示屏 |
8寸 |
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放大倍數(shù) |
19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm |
