型號(hào)：

EDX 1800 B X熒光光譜儀

測(cè)試對(duì)象：

粉末、固體、液體

元素分析范圍：

硫（S）－鈾（U）

同時(shí)最多可測(cè)元素：

75種

含量分析范圍：

1ppm～99.99%

工作穩(wěn)定性：

總熒光強(qiáng)度為0.1％

測(cè)試時(shí)間：

60～200秒

檢測(cè)器分辨率：

160±5eV

多道分析器：

2048道

X射線光管：

功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo

高壓電源：

電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時(shí)小于0.05%

外型尺寸：

550mm*416mm*333mm

測(cè)量倉(cāng)：

460mm*298mm*98mm

重量：

45Kg

檢出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

鍍層技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)鍍層數(shù)：

最多可達(dá)5層

鍍層種類：

單金屬鍍層、合金鍍層

鍍層識(shí)別精度：

分析檢出限可達(dá)2ppm，最薄可測(cè)試0.005μm。

厚度測(cè)試范圍：

輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

計(jì)數(shù)率：

1300-8000cps