電壓暫降_短時(shí)中斷_電壓變化_抗擾度試驗(yàn)GB/T 17626.29-200 相關(guān)信息由 北京第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)有限公司提供。如需了解更詳細(xì)的 電壓暫降_短時(shí)中斷_電壓變化_抗擾度試驗(yàn)GB/T 17626.29-200 的信息，請(qǐng)點(diǎn)擊 http://m.qnon.net/b2b/qmjc.html 查看 北京第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)有限公司 的詳細(xì)聯(lián)系方式。
電壓暫降_短時(shí)中斷_電壓變化_抗擾度試驗(yàn)GB/T 17626.29-200執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-11 GB/T17626.11標(biāo)準(zhǔn)
1.1 電壓電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)起因：
電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。
1.2 電壓電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)?zāi)康模?/strong>
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同類型的實(shí)驗(yàn)來(lái)模擬電壓的突變效應(yīng)，以便建立一種評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時(shí)的抗擾性通用準(zhǔn)則。
GB/T 17626.29-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二十九部分。
GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)等同采用IEC 61000-4-29：2000《電磁兼容 第4部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法。
本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。
本部分的目的是建立一種評(píng)價(jià)直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則。
本部分規(guī)定了：
——試驗(yàn)等級(jí)的范圍；
——試驗(yàn)發(fā)生器；
——試驗(yàn)布置；
——試驗(yàn)程序。
本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于第6章要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。
直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。
不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對(duì)有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)會(huì)（或用戶和設(shè)備制造商）仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗(yàn)和嚴(yán)酷度等級(jí)。
