tjHP4291B*HP4291B阻抗分析儀

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Agilent/HP4291B RF阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度測量提供總體解 

決方案。
描述 Agilent4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量 

的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在 

廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。 
Agilent/HP4291B射頻阻抗特點(diǎn) 
·基本精度:±0.8% 
·先進(jìn)的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償技術(shù) 
·四種元件用的測試夾具(被測件尺寸:0.5mm~20mm) 
·在兩上通道內(nèi)獨(dú)立選擇參數(shù) 
·直接讀出介電常數(shù),導(dǎo)磁率 
·兩種材料用的夾具(工作溫度范圍:-55℃~-200℃) 
HP4291B·能進(jìn)行多種分析(溫度、科爾圖、弛豫時間) 
·多種掃描參數(shù)(頻率、交流電平、直流偏置、溫度) 
Agilent/HP4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下 

測量器件。用可選的直流偏置(達(dá)40V和100mA)使測量偏置獨(dú)立于阻抗特性。只要按一個按鈕， 

內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計(jì)算5種電路模型的電路常數(shù)值。
Agilent/HP4291B有2個測量通道；每一個通道都可設(shè)置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參 

數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以 

LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒 

溫箱或園片探測器這類外部測試設(shè)備，而不需要單獨(dú)的儀器控制器。